报告题目：材料纳米力学性能的快速准确定量AFM成像

报告人：姚检军 博士（应用科学家）

报告时间：2015年1月15日  上午10点-11点

材料的纳米力学性能一直是材料学家关心的热点，本次报告将介绍研究材料的纳米力学机械性能的两项新技术-- AM-FM粘弹性模式（Viscoelastic Mapping Mode）和损耗正切模式（Loss Tangent ）。传统的轻敲模式被证明是一种使用广泛的快速成像技术，但一直以来对于轻敲模式所得到的信号难以定量表征。新的AM-FM粘弹性模式 （Viscoelastic Mapping Mode ）是在轻敲模式的基础上开发，同时结合频率调制（Frequency Modulation）技术的高灵敏度和定量特点。损耗正切模式（Loss Tangent ）是近开发的另外一种定量表征轻敲模式相位（phase）信号的技术，它能准确定量揭示探针和样品相互作用的能量损耗和能量储存。AM-FM粘弹性模式（Viscoelastic Mapping Mode）和损耗正切模式（Loss Tangent ）以传统的轻敲模式的快速扫描和微弱力特点成像，同时获取样品的定量弹性模量和损耗因子(Loss Tangent )。

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